A
|
|
Acoustic
Control Systems : °áÇÔ Å½»ó±â, µÎ²² ÃøÁ¤±â, À̹Ì¡ ½Ã½ºÅÛ, À§»ó ¹è¿ ½Ã½ºÅÛ »ý»ê |
Advanced OEM Solutions : À§»ó ¹è¿ ¾î·¹ÀÌ, ¸ÖƼ ä³Î, FMC/TFM OEM »ý»ê |
Aerospace Inspection Training Malta : Ç×°ø ¿ìÁÖ »ê¾÷ ºñÆÄ±« °Ë»ç ±³À°, ½ÃÇè |
Agfa : ¹æ»ç¼± °Ë»ç¿¡
»ç¿ëµÇ´Â °ø¾÷¿ë Çʸ§ »ý»ê |
AIS : ÃÊÀ½ÆÄ
È»ó ½Ã½ºÅÛ Á¦ÀÛ |
American Society for Nondestructive Testing (ASNT) :
¹Ì±¹ ºñÆÄ±« °Ë»ç Çùȸ |
ANDEC : ÃÊÀ½ÆÄ ¿Í·ù °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ ¹× ¼¾¼, ÄÜÅ©¸®Æ®
°Ë»ç Àåºñ »ý»ê |
Andrew NDT Engineering : ¿Í·ù °Ë»ç
Àåºñ ¹× ¼¾¼ Á¦ÀÛ |
Aolong Group : X-ray °áÇÔ Å½»ó±â, °íÁÖÆÄ ¹× °íÀü¾Ð X-ray ±â±â Á¦ÀÛ |
Applus : Å©·¢ Ž»ó±â, Àüµµµµ, ºÎ½Ä ÃøÁ¤±â |
Ashtead Technology : ¹Ì±¹ÀÇ
ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ ·»Å» Àü¹® ȸ»ç |
AT Sensors : µ¶ÀÏÀÇ Àû¿Ü¼± ¿µ»ó ¹× °í¼Ó 3D ¿µ»ó Àü¹® ȸ»ç |
ATS : ÃÊÀ½ÆÄ
¹× ¿Í·ù °Ë»ç¸¦ À§ÇÑ ºñ±³ ½ÃÇèÆí, EDM Notch Á¦ÀÛ |
ayData : DICONDE À̹ÌÁö ¹× Á¤º¸ º¸°í, º¸°ü, Àμâ, °øÀ¯ ¼Ö·ç¼Ç |
|
B
|
Balteau NDT : °ø¾÷¿ë ÈÞ´ë ¹× ¼³Ä¡Çü
X-ray Àåºñ Á¦ÀÛ |
British
Institute of Non-Destructive Testing :
¿µ±¹ÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç Çùȸ |
BRUKER : ¹°Ã¼ÀÇ ³»ºÎ ¹Ì¼¼ ±¸Á¶ÀÇ 3Â÷¿ø ºñÆÄ±« X-ray À̹Ì¡ ½Ã½ºÅÛ °³¹ß ¹× Á¦Á¶ |
BYK : ¹Ì±¹ÀÇ ÃÊÀ½ÆÄ ÆÞ½º ¹ß»ý/¼ö½Å
Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü. 35 MHz Àåºñ¿Í 200, 500 MHzÀÇ ´Ù¾çÇÑ ¸ðµ¨ »ý»ê |
|
C
|
Cabbage
Cases : Àåºñ ÄÉÀ̽º »ý»ê¾÷ü |
Canadian
Institute for Non-Destructive Evaluation :
ij³ª´ÙÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç ¿¬±¸¼Ò |
CD
International Technology :
ÃÊÀ½ÆÄ ŽÃËÀÚ »ý»ê¾÷ü |
Class
Instrumentation : ¿µ±¹ÀÇ È¸»ç·Î ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â,
ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²² ÃøÁ¤±â µîÀ» »ý»ê |
comet yxlon : µ¶ÀÏ¿¡ º»»ç¸¦ µÐ ´Ù±¹Àû ±â¾÷À¸·Î
¹æ»ç¼± °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ CT Àåºñ Á¦Á¶ |
Controle Mesure Systemes :
ÇÁ¶û½ºÀÇ ÈÞ´ë¿ë ¹× ¼³Ä¡ÇüÀÇ ÀںРŽ»ó ÀåÄ¡ »ý»ê ¾÷ü |
CoreStar
International : ¿Í·ù
Æ©ºê °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ Á¦Á¶ |
CSC Force Measurement :
force¿Í torque¸¦ ÃøÁ¤Çϱâ À§ÇÑ Àåºñ Á¦ÀÛ |
Curtis
Industries : EDM notch ¹× Æò¸é Àú¸é
ȦÀ» Á¤¹Ð °¡°øÇØÁÖ´Â ¾÷ü |
CyberLogic : ÃÊÀ½ÆÄ ½ÇÇè simulation°ú °ü·ÃµÈ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î
Á¦ÀÛ |
Cygnus
Insturments : ´ÙÁß ¿¡ÄÚ ¹æ½Ä¿¡ ÀÇÇÑ ÃÊÀ½ÆÄ
µÎ²² ÃøÁ¤±â Á¦Á¶¾÷ü. ÀÌ
¹æ½ÄÀ» ÀÌ¿ëÇÏ¸é ÆäÀÎÆ® ÄÚÆÃÀ̳ª ³ìÀÇ µÎ²²¸¦ Á¦¿ÜÇÑ ¼ø¼öÇÑ ±Ý¼ÓÀÇ µÎ²²¸¦ ÃøÁ¤ÇÒ ¼ö ÀÖÀ½. |
|
D
|
Dakota NDT : ¹Ì±¹ California¿¡
Àִ ȸ»ç·Î¼ ÈÞ´ë¿ë ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²² ÃøÁ¤±â, Á¤¹Ð¿ë ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²²
ÃøÁ¤±â, ÃÊÀ½ÆÄ º¼Æ® Ãà·Â ÃøÁ¤±â¸¦ »ý»ê |
Dantec Dynamics : ÅÏŰ ¹× ¸ÂÃãÇü ÃøÁ¤ ½Ã½ºÅÛ °³¹ß ¹× Á¦Á¶ |
Dasel Sistemas : PAS(Phased Array Systems), ÀüÀÚ ½ºÄ³´× °Ë»ç |
DeFelsko
Inspection Instruments : ÀÚ±â À¯µµ ¹æ½Ä, ¿Í·ù À¯µµ
¹æ½Ä, ÃÊÀ½ÆÄ ¹æ½Ä µî ´Ù¾çÇÑ Á¾·ùÀÇ ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â¸¦ »ý»ê |
DETEK : ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ ¹× ¼Ò¸ðǰ
°ø±Þ¾÷ü |
dgzfp :
µ¶ÀÏÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç Çùȸ (German
Society of Non-Destructive Testing (DGZfP)) |
DIU Dresden International University : µ¶ÀÏ¿¡ ÀÖ´Â ´ëÇÐÀ¸·Î NDT ¸¶½ºÅÍ ÇÁ·Î±×·¥ Á¦°ø |
Dolphitech : ³ë¸£¿þÀÌ¿¡ ÀÖ´Â ÈÞ´ë¿ë FRP È»ó °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶ |
DOPPLER : ÃÊÀ½ÆÄ À§»ó ¹è¿ °áÇÔ Å½»ó±â, ÇÁ·Îºê, ¿Í·ù Àåºñ, ½ºÄ³³Ê |
|
E
|
Eclipse Scientific : BeamTool, Phased Array, ToFD |
Edax : XRF¿¡ ÀÇÇÑ ÇÕ±Ý ºÐ¼®±â »ý»ê |
Eddyfi : ij³ª´Ù Äùº¤¿¡ º»»ç¸¦ µÐ, °í±Þ ¿ÍÀü·ù ¹× ÀüÀڱ⠼ַç¼Ç Àü¹® ȸ»ç |
EKOSCAN : ÇÁ¶û½º ȸ»ç·Î¼, Ç¥ÁØ ¹× »ç¿ëÀÚ Á¤ÀÇ ÇÁ·Îºê, ToFD ÇÁ·Îºê, À§»ó ¹è¿ ÇÁ·Îºê Á¦Á¶ |
Elcometer : ºÎ½Ä °Ë»ç ºÐ¾ß Àü¹® ±â¾÷ |
ETher NDE : ¿µ±¹ ¾÷ü·Î¼ ¸ðµç ¿Í·ù ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ, ÇÁ·Îºê ¹× ¾×¼¼¼¸® Á¦Á¶ |
EVIDENT : ´Ù±¹Àû ȸ»ç·Î¼ ´Ù¾çÇÑ À帣ÀÇ ºñÆÄ±« °ü·Ã ±â±â °ø±Þ |
EXTENDE : NDE ½Ã¹Ä·¹ÀÌ¼Ç ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î CIVA µ¶Á¡ ÆÇ¸Å ´ë¸®Á¡ |
|
F
|
FiNDT : 2000³â¿¡ ¼³¸³µÈ Áß±¹ »óÇÏÀÌ ¾÷ü·Î ÈÞ´ë¿ë LED ·¥ÇÁ, ÀÚ±â ÀÔÀÚ Å×½ºÆ® Àåºñ, ħÅõ Å×½ºÆ® Àåºñ »ç¾÷ |
Fischer : Àüµµµµ ÃøÁ¤±â, ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â
¹× Àç·á ºÐ¼®±â µîÀ» »ý»êÇÏ´Â ´Ù±¹Àû ±â¾÷
|
FI Test-and Messtechnik : ź¼Ò º¹ÇÕ¹° ¹× À¯»çÇÑ ±âÁúÀÇ ÆäÀÎÆ®¸¦ À§ÇÑ µÎ²² ÃøÁ¤ |
FlawTech : ÃÊÀ½ÆÄ, ¹æ»ç¼±, ÀںРŽ»ó °ü·Ã °áÇÔ ½ÃÇèÆí
»ý»ê |
FLIR
Systems : Àû¿Ü¼±À» ÀÌ¿ëÇÑ ¿È»ó Ä«¸Þ¶ó »ý»ê |
FOERSTER
: ¿Í·ù¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ ÈÞ´ë¿ë ¹× ¼³Ä¡Çü °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ Á¦ÀÛ |
foma
: ÀÎÅͳÝÀ» ÀÌ¿ëÇÑ X-ray Çʸ§ ÆÇ¸Å |
Force Technology : ÃÊÀ½ÆÄ P-scanÀ»
ÀÌ¿ëÇÑ ±¸Á¶¹°ÀÇ ºÎ½Ä »óÅ ¹× °áÇÔ °Ë»ç¸¦ À§ÇÑ È»ó ½Ã½ºÅÛ Á¦Á¶
|
FPrimeC : ij³ª´Ù¿¡ ÀÖ´Â Åä¸ñ ¾ÈÀüÁø´Ü °Ë»ç ȸ»ç·Î ¡°i-pile¡± ¿ÍÀÌÆÄÀÌ ÆÄÀÏ Å×½ºÅÍ Á¦ÀÛ °ø±Þ |
FUJIFILM : °ø¾÷¿ë X-ray Çʸ§ »ý»ê |
|
G
|
GammaTec : Acoustic Emission, ÀÚµ¿È ½Ã½ºÅÛ, ÄÚÆÃ & Ç¥¸é °Ë»çµî |
GB Inspection Systems : ¿µ±¹ÀÇ ÃÊÀ½ÆÄ ÇÁ·Îºê ¹× ¾×¼¼¼¸® Á¦Á¶ ¾÷ü |
GE Inspection Technologies : ¹æ»ç¼± ÃÔ¿µ, CT, ÃÊÀ½ÆÄ, ÀüÀÚ±â, °æµµ ½ÃÇè ¹× °èÃø ¼Ö·ç¼Ç Á¦°ø |
GenScope :
³»½Ã°æ °ü·Ã Á¦Ç° Á¦Á¶ |
GSSI: ·¹ÀÌ´õ¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ ÄÜÅ©¸®Æ® ±¸Á¶¹°, ÁöÇÏ ¸Å¼³¹° ŽÁö ½Ã½ºÅÛ |
GILARDONI : ÀÌÅ»¸®¾ÆÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ ȸ»ç·Î ÃÊÀ½ÆÄ
Ž»ó±â, µÎ²²
ÃøÁ¤±â µî »ý»ê |
Guided
Ultrasonics : À¯µµÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç Àåºñ
Wavemaker »ý»ê |
GULMAY : °íÀü¾Ð, °íÁÖÆÄ X-ray ¹ß»ý±â ¹× ÄÁÆ®·Ñ·¯ ¼³°è ¹× Á¦Á¶ |
|
H
|
HAMAMATSU : Micro PMT,, PMT ¸ðµâ, MCP |
HELLIER : ºñÆÄ±« °Ë»ç °ü·Ã ±³À° ±â°ü |
HEXAGON : »ê¾÷¿ë ÄÄÇ»ÅÍ ´ÜÃþ ÃÔ¿µ µ¥ÀÌÅÍ ºÐ¼® ¹× ½Ã°¢È ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °³¹ß |
HILLGER : ÃÊÀ½ÆÄ º¹ÇÕ Àç·á, ¼¼¶ó¹Í, ÄÜÅ©¸®Æ®, °íÀ½¿ª °¨¼è ¼ÒÀ縦 À§ÇÑ Æ¯¼ö ÃÊÀ½ÆÄ À̹Ì¡ ½Ã½ºÅÛ °³¹ß |
Hobart
Institute of Welding Technology :
ÀÚºÐ, ħÅõ, À°¾È °Ë»ç¸¦ À§ÇÑ ±³À° °úÁ¤ Á¦°ø
|
|
I
|
ibg :
¿Í·ù ¼±º° ½Ã½ºÅÛ Ãë±Þ |
IDEKO : ÃÊÀ½ÆÄ, ¿È»ó, »çÁø Ãø·®, ·¹ÀÌÀú ¹× ±¤ÇÐ ÃøÁ¤ ÅëÇÕ ¼Ö·ç¼Ç °³¹ß ¿¬±¸ ¼¾ÅÍ |
IMASONIC
: ÇÁ¶û½ºÀÇ ÃÊÀ½ÆÄ ¼¾¼ Àü¹® Á¦Á¶ ¾÷ü
|
IMG Ultrasuoni : ÀÌÅ»¸®¾ÆÀÇ »ê¾÷ ÀÀ¿ë ¹× ÀÇÇпë ÃÊÀ½ÆÄ Æ®·£½ºµà¼ Á¦Á¶ ¾÷ü |
Impact-Echo Instruments : ÀÓÆÑÆ® ¿¡ÄÚ¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ ÄÜÅ©¸®Æ® ±¸Á¶¹° °Ë»ç ¹× ºÐ¼® Àåºñ Á¦ÀÛ |
InfraTec : µ¶ÀÏÀÇ Àû¿Ü¼± ±â¼ú Àü¹® ¾÷ü, ¿È»ó Ä«¸Þ¶ó |
Insight NDT : ÀÚºÐ, ÃÊÀ½ÆÄ, ¿Í·ù¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ
ÀÚµ¿ °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶ ¾÷ü, ÀÚµ¿Â÷ÀÇ
ÇǽºÅæ ¸µ °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶ |
Innerspec Technologies : EMAT ¹× ¿Â¶óÀÎ °Ë»ç Àåºñ¸¦ Á¦ÀÛ »ý»ê |
Innovation Polymers : À½Çâ ±â´ÉÀÌ ÀÖ´Â Æú¸®¸Ó °³¹ß |
Inspection
Technologies : ºñÆÄ±« °ü·Ã Àåºñ
°ø±Þ¾÷ü |
Instrument Technology : ½Ã°¢ °Ë»ç¿Í
°ü·ÃµÈ Àåºñ Ãë±Þ |
Intelligent Optical Systems : EMF ¹× Two
Wave Mixing ¹æ½Ä¿¡ ÀÇÇÑ ·¹ÀÌÀú ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç Àåºñ |
International Light Techonologies : UV
¹× °¡½Ã±¤¼± ÃøÁ¤¿ë radiometer ¹× photometer
|
International School of Aerospace NDT : Ç×°ø ¿ìÁÖ ºñÆÄ±« °Ë»çÀÇ ¸ðµç ¹æ¹ý¿¡ ´ëÇÑ ¿µ±¹ ºñÆÄ±« °Ë»ç °øÀÎ ±³À° ±â°ü |
Iowa
State University : ¹Ì±¹ ¾ÆÀÌ¿À¿Í ´ëÇб³ÀÇ
ºñÆÄ±« °ü·Ã »çÀÌÆ® |
IRIS : ¿±³È¯±â Æ©ºê
°Ë»ç¸¦ À§ÇÑ ÃÊÀ½ÆÄ Æ©ºê °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ Á¦Á¶ ¹× ¿ë¿ª °Ë»ç,
¿Í·ù Æ©ºê °Ë»ç ¹× ÅÊÅ© Àú¸é
°Ë»ç ¿ë¿ª ¼ºñ½º |
|
J
|
Japan Probe : ÀϺ» ¿äÄÚÇϸ¶¿¡ À§Ä¡ÇÑ ÃÊÀ½ÆÄ ŽÃËÀÚ Àü¹® ¸ÞÀÌÄ¿·Î Ư¼öÇÑ Å½ÃËÀÚµµ Á¦ÀÛ °ø±Þ |
JFE Advantech : ÀϺ» JFE steelÀÇ
ÀÚȸ»ç·Î ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²² ÃøÁ¤±â, Áøµ¿ ÃøÁ¤ Àåºñ ¹× ½Ã½ºÅÛÀ» »ý»ê (îñ: Kawatetsu Advantech) |
JMD : NDT Á¦Ç° ¹× ¾×¼¼¼¸® ÆÇ¸Å ¾÷ü |
|
K
|
Karl
Deutsch : µ¶ÀÏÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü·Î¼
ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó±â, ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â, ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²² ÃøÁ¤±â, Å©·¢ ±íÀÌ
ÃøÁ¤±â, ŽÃËÀÚ, ÀںРŽ»ó ÀåÄ¡ ¹× ÀÚµ¿ ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛÀ» Á¦ÀÛ |
KYUNGDO Enterprise : °æµµ¾çÇà, ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ »ý»ê ¹× °ø±Þ ¾÷ü |
|
L
|
Laser Optical Engineering : ¸ÂÃãÇü ·¹ÀÌÀú ±â¹Ý À̹Ì¡ Á¦Ç° ¹× ¼ºñ½º °³¹ß |
Laser Technology : Ææ½Çº£´Ï¾Æ¿¡ Àִ ȸ»ç·Î¼
Shearographic ¹× µðÁöÅРȦ·Î±×·¡ÇÇ¿¡ ÀÇÇÑ ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶ ¹× °ü·Ã Àåºñ¿¡ ÀÇÇÑ ¿ë¿ª ¼ºñ½º Á¦°ø |
Lavender International
: ºñÆÄ±« ±³À° ¹× ½ÃÇè ÇÁ·Î±×·¥ |
Leak
Testing Specialists : ´©Ãâ °Ë»ç¿Í °ü·ÃµÈ
½ÃÇè ¹× ±³À° |
Lecoeur Electronique : ¾ß±Ý, ¿øÀÚ·Â, Ç×°ø, ¿ìÁÖ, öµµ, ÀÚµ¿Â÷, ÆÄÀÌÇÁ µî ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç |
LIXI : X-ray Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü, ¸®¾ó ŸÀÓ ÆÄÀÌÇÁ
½ºÄÉÀÏ °Ë»ç Àåºñ |
Lizard NDE : ¾î·¹ÀÌ ¶Ç´Â ´ÜÀÏ ¼ÒÀÚÀÇ ´ÜÀÏ ½ºÄµ ÆÐ½º¿¡¼ ±³·ù Çʵå ÃøÁ¤, ÇÊµå ±×·¡µð¾ðÆ® À̹Ì¡ µ¥ÀÌÅÍ Á¦°ø |
|
M
|
Magnaflux
: ÀںР¹× ħÅõ °Ë»ç¿¡ »ç¿ëµÇ´Â °ü·Ã¿ëǰ Á¦Á¶ ÆÇ¸Å |
Magnetic Analysis : ¿Â¶óÀÎ
°Ë»ç¿ë ¿Í·ù, ÃÊÀ½ÆÄ, ÀںРÀåºñ ¹× ½Ã½ºÅÛ »ý»ê
|
Magwerks : ÈÞ´ë¿ë ÀںРŽ»ó Àåºñ Á¦Á¶ ¹× ¼ºñ½º |
Marktec : ÀϺ» ȸ»ç·Î ħÅõ
Ž»ó, ¿Í·ù °Ë»ç,ÀںР°Ë»ç °ü·Ã Á¦Ç° »ý»ê
|
Matec Instrument : ¹Ì±¹
¸Å»çÃò¼¼Ã÷¿¡ Àִ ȸ»ç·Î ÃÊÀ½ÆÄ È»ó ½Ã½ºÅÛ, ÀÚµ¿È ½Ã½ºÅÛÀ» Á¦ÀÛ
|
Material Testing Center : Æú¶õµå ¾÷ü·Î¼ ±¸Á¶¹° ¸ðƼÅ͸µ ½Ã½ºÅÛ ±¸Ãà, NDT ¹× SHM ½Ã½ºÅÛ ÆÇ¸Å |
Metrison
: Æú¶õµå ȸ»ç·Î ÃÊÀ½ÆÄ µÎ²² ÃøÁ¤±â, ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â µîÀ» »ý»ê (îñ:Inco-veritas) |
MFE
Enterprises : ÀÚ¼Ó ´©¼³¹ý¿¡ ÀÇÇÑ
ÅÊÅ© ¹Ù´Ú °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ »ý»ê |
MFE
Middle East : NDT, RVI ¹× ȯ°æ °Ë»ç Àåºñ |
Microvista : °áÇÔ ºÐ¼®, Àü¹®È ¹× ÀÚµ¿È °Ë»ç |
MISTRAS : ºñÆÄ±« Àç·á °Ë»ç¸¦ Æ÷ÇÔÇÑ ±¤¹üÀ§ÇÑ
¿ë¿ª °Ë»ç ¾÷ü |
MISTRAS Data Solutions : AE, ÃÊÀ½ÆÄ, ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶ |
M.K.C
Korea : ±¹³»ÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ °ø±Þ¾÷ü, À¯µµÆÄ
°Ë»ç¿ë ¼¾¼, ÃÊÀ½ÆÄ ¼¾¼ ¹× ÄÜÅ©¸®Æ® °Ë»ç Àåºñ »ý»ê |
Modsonic : Àεµ¿¡ Àִ ȸ»ç·Î
ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó±â, µÎ²² ÃøÁ¤±â »ý»ê |
MX Industrial : ºñÆÄ±«
°Ë»ç Àåºñ °ø±Þ ¹× Àåºñ calibration ¼ºñ½º
|
|
N
|
Nawoo Ltd. : ³ª¿ìÁÖ½Äȸ»ç, RT, UT, MT, PT, ECT ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ |
NDT Consulting Group : ºñÆÄ±« °Ë»ç ¿ë¿ª |
NDT MainCal : ¹æ»ç¼± ¹æÈ£ ÀÚ¹® ¼ºñ½º, ºñÆÄ±« °Ë»ç, ¼ö¸® |
NDT.net : °¢Á¾
ºñÆÄ±« °ü·Ã Á¤º¸°¡ ¸ð¿© ÀÖ´Â °÷ ºñÆÄ±« °ü·Ã ȸ»ç, Àü½Ãȸ, ÃÖ±Ù ³í¹® µî¿¡ ´ëÇÑ Á¤º¸¸¦ º¼ ¼ö ÀÖÀ½ |
NDT
International : À½Çâ ¹æÃâ ¹×
ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó±â, µÎ²² ÃøÁ¤±â »ý»ê ¹× °ø±Þ |
NDT Personnel : Ç×°ø ¿ìÁÖ NDT, MRO, »ê¾÷ ¹× ¸ðÅÍ ½ºÆ÷Ã÷ |
NDT Seals : °Ë»ç Æ÷ÀÎÆ® ½Äº°, Ç¥½Ã ¹× º¸È£¸¦
À§ÇÑ Ç÷¯±×, ¶óº§ Á¦Á¶ |
NDTSS : ½Ì°¡Æ÷¸£ÀÇ ºñ¿µ¸® NDT ´Üü |
NDT Supply : ÈÞ´ë¿ë Àåºñ¸¦ ¹Ì±¹ ³»¿¡¼ °ø±ÞÇÏ´Â ¾÷ü, ¿Ü±¹À¸·Î´Â ¼öÃâÇÏÁö ¾ÊÀ½ |
NDT
Systems : DuPont NDT¸¦ ÀμöÇÑ È¸»ç·Î
ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó±â, µÎ²² ÃøÁ¤±â, È»ó ½Ã½ºÅÛÀ» »ý»ê |
NDT Technology : ´Ù¾çÇÑ Á¾·ùÀÇ ¿ÍÀ̾î
·ÎÇÁ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ ¹× Àåºñ¸¦ »ý»ê |
NDTXducer. : ¹Ì±¹ ¸Þ»çÃß¼¼Ã÷ ȸ»ç·Î ÀϹÝÇü ÃÊÀ½ÆÄ ŽÃËÀÚ Á¦Á¶ |
Newco NDT
: ¹Ì±¹ ³²µ¿ºÎÀÇ ºñÆÄ±« °ü·Ã Àåºñ °ø±Þ ¹× ¼ºñ½º ¾÷ü |
Nexxis : ¼®À¯ ±¼Âø Àåºñ, ÇØÀú ¼³ºñ, 䱤, ÀÎÇÁ¶ó °øÁ¤ µî ´Ù¾çÇÑ ÀÀ¿ë ºÐ¾ß¿¡ ´ëÇÑ °Ë»ç, ½ÃÇè, ÃøÁ¤ Àåºñ °ø±Þ |
Nordco : ÃÊÀ½ÆÄ¿¡ ÀÇÇÑ
½Ç¸°´õ, ·¹ÀÏ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛÀ» »ý»ê |
Nordinkraft : ¹ÝÁغñÀÚÀç ºñÆÄ±« °Ë»ç, ±¤¹üÀ§ÇÑ ¿Âµµ ¹üÀ§¿¡¼ÀÇ ÀÚµ¿ ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶ |
North Star Imaging : ¹Ì±¹ÀÇ »ê¾÷¿ë X-ray ¹× CTÃÔ¿µ Àåºñ Á¦Á¶ ¾÷ü |
Novotest : ¿ìÅ©¶óÀ̳ª ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ »ý»ê ¾÷ü·Î ÃÊÀ½ÆÄ °æµµ±â, ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó±â µî »ý»ê |
NTB Digital X-ray : »ê¾÷¿ë µðÁöÅÐ X-ray °Ë»ç Ä«¸Þ¶ó |
|
O
|
Oceanscan : ¼®À¯, °¡½º, Àç»ý ¿¡³ÊÁö ¹× ¿øÀÚ·Â »ê¾÷¿¡ Àåºñ ÆÇ¸Å ¹× ÀÓ´ë |
OKO ndt Group : ºñÆÄ±« °Ë»ç¸¦ À§ÇÑ µµ±¸ ¹× ±â¼ú Á¦Á¶ ¾÷ü |
Ono
Sokki : ÀϺ»ÀÇ È¸»ç·Î
Áøµ¿ °ü·Ã Á¦Ç° »ý»ê |
Optel : Æú¶õµåÀÇ È¸»ç·Î ÃÊÀ½ÆÄ °ü·Ã Àåºñ
Á¦Á¶ |
|
P
|
PACSESS : ºñÆÄ±« °Ë»ç À̹ÌÁöÀÇ µðÁöÅÐÈ ½Ã½ºÅÛ °³¹ß |
Panametrics : ÃÊÀ½ÆÄ
Ž»ó±â, µÎ²² ÃøÁ¤±â, ŽÃËÀÚ ¹× UT ÆÞ¼/¸®½Ã¹ö »ý»ê (GE¿¡ ÇÕº´) |
Parker Research :
ÈÞ´ë¿ë ÀںРŽ»ó±â ¹× ¿Í·ù ±³À° Àåºñ Á¦Á¶
|
PH Tool : EDM ºñ±³ ½ÃÇèÆí ¹× Æò¸é Àú¸é Ȧ,
°¢ ÀçÁú º° ASME, ASTM, IIW ¹× Navyships ½ÃÇè ºí·Ï
|
Phoenix Inspection Systems :
¿µ±¹ÀÇ È¸»ç·Î ÀÚµ¿ ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ, Åͺó °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ µî ¿øÀڷ°ú °ü·ÃµÈ
°Ë»ç Àåºñ Á¦ÀÛ |
Phynix : µ¶ÀÏ¿¡ Àִ ȸ»ç·Î ÄÚÆÃ µÎ²² ÃøÁ¤±â
»ý»ê ¹× ±âŸ Àåºñ ÆÇ¸Å |
Piezo Technologies : ÃÊÀ½ÆÄ ŽÃËÀÚ¸¦ À§ÇÑ ¾ÐÀü ¼ÒÀÚ »ý»ê |
PQNDT : ºñÆÄ±« °ü·Ã Á¾»çÀÚ ¼Ò°³ |
PRGMA : ÈÞ´ë¿ë NDT °èÃø±â ¹× ½Ã½ºÅÛ °³¹ß |
Proceq : ½ºÀ§½ºÀÇ È¸»ç·Î ±Ý¼Ó, ÄÜÅ©¸®Æ®, ¾Ï¼®, Á¾ÀÌ ¹× ÇÕ¼º¹°ÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ ¼³°è ¹× Á¦Á¶ |
PROTO : X-ray¿¡ ÀÇÇÑ
ÀÀ·Â ºÐ¼® Àåºñ »ý»ê |
Prüftechnik : ·¹ÀÌÀú¿¡ ÀÇÇÑ Ãà Á¤·Ä Àåºñ, ÄÁµð¼Ç ¸ð´ÏÅ͸µ |
|
Q
|
Q-see man international : ºñÆÄ±«
°ü·Ã ÄÜÅ©¸®Æ® °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü |
|
R
|
Ray-Check
: ¹æ»ç¼± ÈÁú Ç¥½Ã ÀåÄ¡, ÃÊÀ½ÆÄ ¹× ¿Í·ù ½ÃÇèÆí Ãë±Þ |
R-CON NDT :
ºñÆÄ±«°Ë»ç °ü·Ã Àåºñ ¹× ¼Ò¸ðǰ, ±³À°, ÄÁ¼³ÆÃ ¼ºñ½º
|
RITEC : ¹Ì±¹ ·Îµå ¾ÆÀÏ·£µå ÁÖ¿¡ ÀÖ´Â Á¶À½ÆÄ
Àåºñ¸ÞÀÌÄ¿·Î RAM-5000 ½Ã¸®Áî ÇÏÀÌÆÄ¿ö ÃÊÀ½ÆÄ ºÐ¼® ½Ã½ºÅÛ, gated amplifier,
EMAT ¿¬±¸ ¹× °Ë»ç¿ë P/RÀ» »ý»ê |
Rohmann GmbH : µ¶ÀÏÀÇ ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶
ȸ»ç·Î ÈÞ´ë¿ë ¹× ¶óÀÎ °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶ |
ROSEN : ºñÆÄ±« °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ, Àåºñ, ¿£Áö´Ï¾î¸µ µî °ü·Ã ºÐ¾ß Àü¹Ý¿¡ °ÉÃÄ ¼ºñ½º¸¦ Á¦°ø |
rosenxt : ¼¾¼, ÀÚÀ²·Îº¿°øÇÐ |
rtw
RÖNTGEN-TECHNIK DR. WARRIKHOFF GmbH :
¹æ»ç¼± °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü |
Russell NDE Systems : ij³ª´ÙÀÇ ¿Í·ù
°Ë»ç ¿ë¿ª ¾÷ü |
|
S
|
ScanMaster : À̽º¶ó¿¤ÀÇ ÃÊÀ½ÆÄ
Àåºñ, ¼¾¼ ¹× ½Ã½ºÅÛ Á¦Á¶¾÷ü |
SCAN SYSTEMS : ºñÆÄ±« Àåºñ¿¡ »ç¿ëµÇ´Â Àΰø
°áÇÔ Á¦Á¶ |
sdi : ÃÊÀ½ÆÄ ½ºÄ³´× ½Ã½ºÅÛ ¹× °ü·Ã Àåºñ»ý»ê |
SENSORS & SOFTWARE :
·¹ÀÌ´õ ¹æ½Ä ÁöÇÏ ¸Å¼³¹° ŽÁö ½Ã½ºÅÛ |
SHERWIN : ¾×ü ħÅõ Ž»ó Á¦Ç° |
SIUI : ÃÊÀ½ÆÄ ŽÁ¶±â±â ¿¬±¸ °³¹ß, Á¦Á¶ ¹× ÆÇ¸Å |
SLX : ½ÅÈ£´Â Å©°Ô ÇØÁÖ°í ÀâÀ½Àº ÁÙ¿©ÁÖ´Â ÀâÀ½
¾ïÁ¦ ÀåÄ¡ Á¦Á¶ |
Snell Group : ¿È»ó °Ë»ç¿¡
°üÇÑ ±³À°, °ËÁ¤ ¹× Áö¿ø |
SOCOMATE : ÃÊÀ½ÆÄ pluser/receiver
¹× ºÐ¼®¿ë º¸µå »ý»ê |
SONASPECTION : ºñÆÄ±« ±³À° ¹× ÀÎÁõ °ü·Ã
°áÇÔ ½ÃÇèÆí µðÀÚÀÎ ¹× Á¦Á¶ |
Sonatest : ÃÊÀ½ÆÄ Ž»ó±â ¹× µÎ²² ÃøÁ¤±â
Á¦Á¶¾÷ü |
SONAXIS : ÇÁ¶û½º¿¡ ÀÖ´Â ÃÊÀ½ÆÄ ŽÃËÀÚ Á¦ÀÛ Àü¹®È¸»ç |
SONOMATIC : ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç ¼³°è, °³¹ß ¹× Àû¿ë¿¡ ´ëÇÑ Àü¹® Áö½Ä º¸À¯ |
SONOTEC : ÀÇ·á, ÈÇÐ, ¼®À¯, ÆÄÀÌÇÁ, ±â°è, ÀÚµ¿È, ºñÆÄ±« °Ë»ç ¼Ö·ç¼Ç Á¦°ø |
SONOTRON NDT : ÈÞ´ëÇü °áÇÔ Å½Áö±â, µÎ²² ÃøÁ¤±â |
SONIX : ÃÊÀ½ÆÄ ½ºÄ³´× ½Ã½ºÅÛ |
Southwest Research Institute (SwRI) : ÅØ»ç½º »÷¾ÈÅä´Ï¿À¿¡ ÀÖ´Â ¿¬±¸ Àç´ÜÀ¸·Î ºñÆÄ±« °ü·Ã ¿¬±¸ ¹× Àåºñ °³¹ß ¿ë¿ª
|
SPECTROLINE : Àڿܼ± ·¥ÇÁ ¹× °ü·Ã Àåºñ |
srem technologies : ÀںРŽ»ó °Ë»ç(MP) ¹× ¾×ü ħÅõ Ž»ó °Ë»ç(LPI)¸¦ À§ÇÑ Àåºñ, ÈÇÐ ¹× ºÎ¼Óǰ |
STARMANS : üÄÚÀÇ È¸»ç·Î¼ ÃÊÀ½ÆÄ, Àû¿Ü¼±, ÀÚ±â ÀÔÀÚ °Ë»ç ¹× X-ray °Ë»ç Àåºñ °³¹ß ¹× Á¦Á¶ |
Structural Integrity : ¿øÀÚ·Â, ÆÄÀÌÇÁ ¶óÀÎ, ÄÜÅ©¸®Æ® ±¸Á¶¹°ÀÇ °áÇÔ ¿¹¹æ ¼Ö·ç¼Ç |
|
T
|
TD NDE : Ç×°ø ¿ìÁÖ, ¼®À¯, °¡½º, Áß°ø¾÷ Á¦Á¶¸¦ À§ÇÑ Ã·´Ü ÀÚµ¿È ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç ¹× 3Â÷¿ø Áö¿ø ¼ºñ½º |
TECHNOFOUR : Àεµ¿¡
ÀÖ´Â ¿Í·ù ¹× ±Ý¼Ó °ËÃâ±â |
TECHNOLOGY DESIGN : ToFD, À§»ó ¾î·¹ÀÌ °Ë»ç / ½ºÄ³³Ê, ÇÁ·Îºê ¹× ±âŸ ¾×¼¼¼¸® Á¦°ø |
tecnatom : ½ºÆäÀο¡ ÀÖ´Â ¿øÀü °ü·Ã
°Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü |
TecScan : ÃÊÀ½ÆÄ, ¿Í·ù, ÆÞ½ºÇü ¿Í·ù ¹× ToFD ±â¼úÀ» ÅëÇÕÇÑ NDT ½ºÄ³³Ê ½Ã½ºÅÛ ¼³°è ¹× Á¦Á¶ |
TED
: ºñÆÄ±« Àåºñ ÆÇ¸Å¾÷ü |
TELEDYNE ICM : ºñÆÄ±« °Ë»ç¿ë ÈÞ´ë¿ë X-ray ¹ß»ý±â °³¹ß ¹× Á¦Á¶ |
TELOPS : ±¹¹æ, »ê¾÷ ¹× Çмú ¿¬±¸¿ë °í¼º´É ÇÏÀÌÆÛ ½ºÆåÆ®·² À̹Ì¡ ½Ã½ºÅÛ ¹× Àû¿Ü¼± Ä«¸Þ¶ó ¼³°è ¹× Á¦Á¶ |
TesTex : ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶¾÷ü, ÅÊÅ©
Àú¸é °Ë»ç Àåºñ |
TESTIA : Ç×°ø ¿ìÁÖ ºÐ¾ßÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç ¹× ±³À° (AIRBUS ±×·ì) |
Thermal Wave Imaging : ¿È»ó
ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ |
ThermoFisher : ¹æ»ç¼± °ËÃâ ¹× ÃøÁ¤, ºÐ±¤ÇÐ, µ¿À§¿ø¼Ò ¹× ¿ø¼Ò ºÐ¼® |
TPAC : ºñÆÄ±« °Ë»ç¸¦ À§ÇÑ Àåºñ ¹× ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °³¹ß, UT, ´ÙÁß Ã¤³Î, À§»ó ¹è¿, FMC/TFM |
trilion : ºñÆÄ±«
·¹ÀÌÀú ESPI (µðÁöÅРȦ·Î±×·¡ÇÇ)
|
Trufocus : ¹æ»ç¼± °Ë»ç¿ë
Æ©ºê Á¦Á¶¾÷ü |
Tru-Tec NDT : Ư¼ö ÀںРŽ»ó °Ë»ç(MT) ¹× ¾×ü ħÅõ °Ë»ç(PT) ¹× ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç(UT) |
TÜVRheinland : ¹æ»ç¼±, ÃÊÀ½ÆÄ, ÀÚ±â ÀÔÀÚ ¹× ¾×ü ħÅõ °Ë»ç ¼ºñ½º, NDE ±â¼ú Á¦°ø |
TVC : ¿ëÁ¢ °Ë»ç, ºñÆÄ±« °Ë»ç Á¦Ç° ¹× ¼ºñ½º Á¦°ø |
TWI : °¡°ø ±¸Á¶¹° °Ë»ç, ¿ëÁ¢ °Ë»ç, ºñÆÄ±« °Ë»ç |
|
U
|
ultran
group : »ê¾÷¿ë ¹× ÀÇ·á¿ë ÃÊÀ½ÆÄ ŽÃËÀÚ |
Ultrasound Institute : ¸®Åõ¾Æ´Ï¾Æ Ä«¿ì³ª½º °ø´ë ÃÊÀ½ÆÄ ¿¬±¸¼Ò (Ä«¿ì³ª½º´Â ¸®Åõ¾Æ´Ï¾Æ Á¦ 2ÀÇ µµ½Ã) |
UniWest
: ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ ¹× º»µå Å×½ºÅÍ |
USL : ÀÚµ¿È ¹× ¹ÝÀÚµ¿ ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ ¼³°è ¹× Á¦Á¶ |
USRADAR : ÄÜÅ©¸®Æ®³ª ÁöÇÏ ±¸Á¶ÀÇ »óŸ¦ ·¹ÀÌ´õ·Î °Ë»çÇÏ´Â SPR, GPR Àåºñ |
US
Ultratek : ÃÊÀ½ÆÄ P/R, A/D º¸µå
»ý»ê |
UTEX
SCIENTIFIC : ij³ª´ÙÀÇ
ÃÊÀ½ÆÄ pulser/receiver, Data Acquisition Software ¹× È»ó ½Ã½ºÅÛ |
UXR
: ºñÆÄ±« °Ë»ç Àåºñ °ø±Þ¾÷ü |
|
V
|
vallen systeme : µ¶ÀÏÀÇ À½Çâ ¹æÃâ °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ Á¦Á¶¾÷ü,
wavelet ¹× dispersion ºÐ¼® ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î¸¦ ´Ù¿î ¹ÞÀ» ¼ö ÀÖÀ½ |
VAREX IMAGING : »ê¾÷ü¿¡¼ »ç¿ëµÇ´Â CT
¹× µðÁöÅÐ X-ray Àåºñ »ý»ê |
varian
: °íÃâ·Â ¹æ»ç¼± °Ë»ç Àåºñ |
Verasonics : ¹Ì±¹ ½Ã¾ÖƲ ±Ùó¿¡ Àִ ȸ»ç·Î ¿¬±¸¿ë ´Ùä³Î ÃÊÀ½ÆÄ Àåºñ Á¦ÀÛ °ø±Þ |
vermon : ÇÇ¿¡Á¶ ÄÞÆ÷ÁöÆ® Áøµ¿ÀÚ ¹× ŽÃËÀÚ
Á¦Á¶ |
VIDISCO : µðÁöÅÐ ¹æ»ç¼± ÃÔ¿µ ½Ã½ºÅÛ ¼³°è ¹× Á¦Á¶ |
VisualAIM : Â÷¼¼´ë Ŭ¶ó¿ìµå ±â¹Ý Asset Integrity ¹× Performance Management ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î, ½º¸¶Æ® µå·ÎÀ× |
VJTechnologies : ¹æ»ç¼± °Ë»ç ½Ã½ºÅÛ
»ý»ê |
VOGT : ±â°è½Ä ¹× ÀÚµ¿È ÃÊÀ½ÆÄ °Ë»ç ¹× ºñÆÄ±« °Ë»ç ¼ºñ½º Á¦°ø |
|
W
|
Waygate Technologies : »ê¾÷¿ë NDT °Ë»ç, X-¼±, ¹æ»ç¼±, CT |
X
|
XITEX
: ÈÞ´ë¿ë ¹æ»ç¼± È»ó ½Ã½ºÅÛ, ÆÄÀÌÇÁ ³»ÀÇ ½ºÄÉÀÏ °Ë»ç Àåºñ Á¦Á¶ |
X-RAY WorX : »ê¾÷ ¹× ¿¬±¸ ºÐ¾ßÀÇ ºñÆÄ±« °Ë»ç¿ë °íÇØ»óµµ ¸¶ÀÌÅ©·ÎÆ÷Ä¿½º X-ray Æ©ºê Á¦Á¶ |
|
Y
|
|
Z
|
Zawada
NDT : Æú¶õµå ȸ»ç·Î ¿ÍÀÌ¾î ·ÎÇÁ Å×½ºÅÍ »ý»ê |
ZETEC
: ¿Í·ù °Ë»ç Àåºñ |
ZHONG YI NDT : ÆÄÀÌÇÁ ¶óÀÎ Å©·Ñ·¯, ¹× ÈÞ´ë¿ë X-ray Ž»ó±â Á¦Á¶ |